电子器件老化测试实验系统FTS2000

一、电子器件老化测试实验系统FTS2000概述

　　FTS2000电子器件老化测试实验系统，是费思针对各种分立元件，电源模块，继电器，接触器，线束，保险丝等电子器件及产品的动态老化测试，包括：可靠性实验、寿命试验、性能指标实验等应用而开发的实验系统。

　　系统搭配费思的各型高精度的直流电源和电子负载以及费思的系列数据采集控制板卡，搭配各类高低温试验箱及测试仪器，系统可实现对元器件的加速老化测试。

　　测试系统操作简便，可对多个分组批量的电子器件产品同时动态加电、拉载、控制，进行长时间的、连续的测试控制，及数据统计分析。

　　系统的架构具有良好的扩展性，配置灵活度高,可提供定制的测试项，帮助各类用户轻松完成复杂的实验。

二、电子器件老化测试实验系统FTS2000特点

　　◆ 动态测试

　　◆ 测试精度高

　　◆ 采集速度快

　　◆ 开放式软件，可根据需求实现硬件设备的增加、调整、配置

　　◆ 模块化设计，易于维护

　　◆ 紧凑的结构设计，可配合高低温箱开展实验

　　◆ 高性能、低纹波噪音程控电源

　　◆ 自适应恒压或恒流输出，自动切换工作状态

　　◆ 时序控制功能，可自定义每一路电源输出大小和时间工步

　　◆ 实时监测通道数据、图形化显示设备信息、测试数据的记录保存与调用，导出成Excel文件保存

三、电子器件老化测试实验系统FTS2000推荐测试仪器