一、目前开发的系统在运作后会死机，因此，怀疑是某个总线信号命令发错造成问题除错，请问逻辑分析仪如何帮我找出死机前所下的命令?

　　可以使用转态存储 + 逾时 (Timeout) 触发，就可以了，

　　操作步骤为：

　　1. 设定硬件模式为200M，Transitional Storage-8或-32

　　2. 选择触发模式为逾时触发

　　3. 设定逾时触发时间为超出总线正常空闲 (Idle)，以避免误触发

　　4. 开始截取信号

　　5. 等待测系统死机后，逾时触发就会生效，此时再按下逻辑分析仪软件停止键，就可以观察死机前总线上面的信号。

二、请问TravelLogic逻辑分析仪叠加功能是否可以改由示波器来触发逻辑分析仪?

　　可以的，只要将叠加同步线 (MCX-MCX / MCX-BNC) 连接方向改由示波器Trig-Out连接到逻辑分析仪Trig-In，在设定逻辑分析仪软件为外部触发，并切换示波器至Single Shot状态等待触发即可。

三、请问TravelLogic逻辑分析仪使用转态存储时无法移动T游标?

　　是的，使用转态存储时只要信号转态即存入逻辑分析仪记忆体，信号没转态部分仅记录信号状态以及经过时间，所以无法精确利用T游标来估算Pre-Trigger/Post Trigger占了整体逻辑分析仪记忆体多少比例，所以固定 T 游标位置。

四、请问在使用Serial Flash总线分析仪，无法在IC型号列表找到完全相符的型号，是否可自行编辑加入呢?

　　抱歉，这个部分因为涉及较复杂的结构，故没有开放给客户自行编辑 IC 资料。若您有这样的需求，我们的建议是：

　　1. 找寻同厂牌相似的IC 型号即可，通常同厂牌的命令都会相同。

　　2. 提供我们该 IC 型号的 Datasheet 或告知从那里下载，由我们进行资料收录工作。

五、请问TravelLogic逻辑分析仪可以直接测量差分 (Differential) 信号吗?

　　逻辑分析仪架构上并不合适直接测量差分信号，只适合测量单端 (Single-Ended) 信号，也就是信号输入端与地线。

　　若有数字差分信号测量的需求，建议要在差分信号收发器转换成单端信号之后，才能用逻辑分析仪进行测量。

六、请问硬件参数设定中，200M–36，200M–18，分别代表什么意思呢?

　　前面的200M代表该模式最高的取样频率，后面的数字代表可用通道数，使用的通道数越少，每通道所分配到的总记忆深度会更多。

七、请问TravelLogic逻辑分析仪合适测量的信号速度最快是多少?

　　目前我们在TL3234B+系列实际进行测量，最快测试到1.8V SD UHS-I (208MHz) 的信号及eMMC 5.0 HS400 (200MHz) 是没有问题的。因此，可以测量的信号速度上限制在这个范围左右。

八、请问 TravelLogic 逻辑分析仪最大输入电压?

　　±40V DC, 15Vpp AC。

九、请问TravelLogic逻辑分析仪可以测量的信号之工作电压最低能到几伏?

　　我们实际测试过的最低工作电压，以Intel SVID信号其工作电压为1V，TravelLogic只要将Threshold设定在0.5V-0.6V左右就可以正常进行测量，因此，高于此电压的信号，只要逻辑分析仪能用 Threshold 区分出逻辑0与1，就能进行测量，至于低于1V的数字信号，因为Threshold已经不容易设定，我们就不推荐进行测量。