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IT-M3332在半导体老化测试中的应用

更新时间:2022-06-23 09:26      点击次数:3 次

IT-M3332概述

  IT-M3332所在的IT-M3300系列回馈式直流电子负载既能模拟各种负载特性,又能将电能无污染的回馈电网。采用高功率密度设计,½U的体积内可提供高达800W的功率吸收,灵活的模组式架构,可以满足客户的不同电流功率的测试需求。同时具备高精度的输出和量测,并且针对测试做了多项安全设计,适合用于各种类型电池放电、多通道电源、半导体老化等多个测试领域。

回馈式直流电子负载IT-M3332宇捷弘业

 

IT-M3332特点

  ♦ ½ U的Mini体积,高功率密度

  ♦ 高效的能量回馈

  ♦ 电池放电测试功能

  ♦ 电池模拟功能

  ♦ 8种操作模式:CC/CV/CP/CR/CV+CC/CC+CR/CV+CR/CC+CV+CP+CR

  ♦ 多通道独立控制,实现同步或比例跟踪功能

  ♦ 单一控制,并联运行可达16台

  ♦ 高速测量,即接16台单机还能保证10次/ S的更新速率

  ♦ 可设置电流上升下降时间

  ♦ List功能

  ♦ 多种保护功能:过流/欠流/过压/过热/过功率/欠压保护、电网故障保护和故障存储、断电保护功能、Sense感测异常保护功能

  ♦ 标配温度量测功能,可测量待测物温度,并执行过温度保护功能

  ♦ 电网状态自动检测,实现可靠并网功能

  ♦ 预充电功能,防止直流加载电流过冲

  ♦ 通过选配件实现防反接保护功能

  ♦ 五种选配卡,提供RS232、CAN、LAN、GPIB、USB_TMC、USB_VCP、RS485、外部模拟量和IO等多种控制方式

 

       感谢您关注我们,更多信息资讯请点击官网www.itest.net,公众号“宇捷弘业”,地址:深圳市龙华区民治优城商务大厦北区A座921,交通便利,欢迎新老客户及合作伙伴前来莅临指导!

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